美國工程院院士、國際知名統(tǒng)計(jì)學(xué)家、美國喬治亞理工大學(xué)教授吳建福做客清華海外名師講堂
清華新聞網(wǎng)5月31日電 5月29日下午，美國工程院院士、國際知名統(tǒng)計(jì)學(xué)家、美國喬治亞理工學(xué)院工業(yè)與系統(tǒng)工程系Coca Cola講座教授吳建福（C.F. Jeff Wu）做客清華大學(xué)海外名師講堂第132講，在理學(xué)院報(bào)告廳做題為《質(zhì)量改進(jìn)：從汽車和芯片到納米和生物》（Quality Improvement: From Autos and Chips to Nano and Bio）的主題報(bào)告。工業(yè)工程系系主任鄭力主持學(xué)術(shù)報(bào)告。
圖為吳建福做客清華大學(xué)海外名師講堂。
報(bào)告中，吳建福從“統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制(SQC)之父”休哈特(Shewhart)在統(tǒng)計(jì)過程控制方向開創(chuàng)性的工作，到世界著名的質(zhì)量管理專家戴明(Deming)在質(zhì)量管理領(lǐng)域影響深遠(yuǎn)的成就，指出質(zhì)量改進(jìn)有著輝煌的歷史。在這些工作和成就中，統(tǒng)計(jì)概念和工具扮演著至關(guān)重要的角色。
吳建福表示，隨著工程應(yīng)用變得日趨復(fù)雜，我們也同樣需要更復(fù)雜的統(tǒng)計(jì)工具來解決這些實(shí)際問題。在過去的三十年間，越來越多的試驗(yàn)設(shè)計(jì)與分析方法，特別是穩(wěn)健參數(shù)設(shè)計(jì)，被用于質(zhì)量改進(jìn)的實(shí)踐。
吳建福在報(bào)告中回顧了穩(wěn)健參數(shù)設(shè)計(jì)的主要思想，特別是這些思想的工程來源及統(tǒng)計(jì)理論。然后，他討論了在現(xiàn)有方法基礎(chǔ)上擴(kuò)展獲得的新的成果，包括對反饋控制及操作窗口的使用。吳建福說，為了獲得更有效的解決方案，我們通常需要結(jié)合專業(yè)領(lǐng)域的知識(shí)。吳建福報(bào)告中展示了數(shù)據(jù)和知識(shí)融合的技術(shù)。他說，在先進(jìn)制造和高技術(shù)應(yīng)用中，種類多、數(shù)量小及附加值高的特點(diǎn)將形成新的挑戰(zhàn)和促成可能的研究模式的轉(zhuǎn)變。結(jié)合來自傳統(tǒng)制造（汽車、芯片）和現(xiàn)代制造（納米、生物）的各種真實(shí)案例，吳建福對一些新的方向和技術(shù)發(fā)展趨勢進(jìn)行了預(yù)測。
演講結(jié)束后，現(xiàn)場學(xué)生就關(guān)心的質(zhì)量改進(jìn)的相關(guān)問題和吳建福進(jìn)行了交流。國際處副處長李宇紅為吳建福頒發(fā)了海外名師講堂獎(jiǎng)牌。
供稿：國際處 工業(yè)工程系 編輯：范麗
